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研磨废水 划片废水 切割废水回用技术介绍

半导体工业制造过程中需要大量高水质纯水,水的电阻率一般需大于10MΩ·cm,所产生的废水大致可区分为蚀刻废水、光刻废水、滤管清洗废水、反渗透废水、离子交换树脂废水,机械划片和研磨(CMP)废水等等。

电子封装是集成电路芯片生产完成后不可缺少的一道工序,是器件到系统的桥梁。其中CMP过程中减薄划片废水因含有大量的纳米级微粒,在处理上较复杂,是目前半导体产业废水处理最常遭遇的难题。此类废水主要产生的途径,在于电子封装工艺中晶圆减薄划片阶段,需采用大量的纯水、超纯水来洗净晶圆表面上所残留的悬浮微颗粒或金属离子污染物,纯水作为漂洗水可达封装总工序用水量的30-40%左右,用水量大。

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划片研磨废水特性

Wastewater Character

1.主要污染物为:大量的不易沉降的纳米级单晶硅颗粒和表面活性剂

2. 废水水质:COD<70mg/L、含盐量极低,电导<100μs/cm,相比于地下水或

自来水的导电度(约250μs/cm)其电导率偏低。

基于该水质实际情况,深圳市国泰环境采用物理方式分离出废水中的硅粉和表面活性剂,处理后的水,可作为纯水系统的水源回用到生产线,解决环保问题,减少自来水用水量,节省生产成本。

其具体技术方案如下:

首先将减薄划片切割废水经过纳米级气浮装置,采用溶气方式曝气,溶气水释放率达到95%∼100%,气体溶解度为100%,使气体弥散时的微气泡分布均匀,平局气泡直径小于10um,可使表面活性剂漂浮于表面,且含水量少于3%,用刮渣板去除,表面活性剂去除率可达到70%∼80%。

其次采用破稳粉+改良压滤的方式,截留废水中70%的颗粒物,形成固液分离。


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